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J-GLOBAL ID:200903002638472331

光ファイバ端面観察工具

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 志賀 正武 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998234716
Publication number (International publication number):2000065679
Application date: Aug. 20, 1998
Publication date: Mar. 03, 2000
Summary:
【要約】【課題】 カットした光ファイバ端面の凹凸を簡便に検査して、検査能率を向上する技術の開発が求められていた。【解決手段】 ホルダ台7にセットしたファイバホルダ6をスライド移動して、このファイバホルダ6から突出された光ファイバ5先端を、所定の観察領域内に挿入するだけで、光ファイバ5端面を顕微鏡3により簡便に観察することができる光ファイバ端面観察工具1を提供する。
Claim (excerpt):
顕微鏡(3)が取り付けられる顕微鏡取付台(4)と、光ファイバ(5)を保持するファイバホルダ(6)がセットされ、かつ、セットされたファイバホルダを、前記顕微鏡取付台に対する進退方向にスライド移動自在に支持するホルダ台(7)とを備え、前記ホルダ台上にて、前記ファイバホルダをスライド移動することにより、このファイバホルダから突出された光ファイバ先端が、前記顕微鏡取付台に取り付けた前記顕微鏡によって観察可能な観察領域(8a)に挿入されるようになっていることを特徴とする光ファイバ端面観察工具(1)。
IPC (3):
G01M 11/00 ,  G02B 21/24 ,  G02B 6/24
FI (3):
G01M 11/00 F ,  G02B 21/24 ,  G02B 6/24
F-Term (7):
2H036EA03 ,  2H036EA08 ,  2H036EA16 ,  2H052AD04 ,  2H052AD10 ,  2H052AD16 ,  2H052AF01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 光ファイバの端面検査方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-157743   Applicant:古河電気工業株式会社
  • 特開昭60-051815

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