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J-GLOBAL ID：200903002650198202

タンデム質量分析計

Inventor： デイビツド・エス・アンダーダイス ,  ピーター・ジエイ・デリツク ,  ダニエル・アール・ジヤーデイン
Applicant, Patent owner： ユニサーチ・リミテツド
Agent (1)： 山崎 行造 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991298100
Publication number (International publication number)：1993013044
Application date： Oct. 18, 1991
Publication date： Jan. 22, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 質量が異なる親イオンを相互に分離することなく、各親イオンについてタンデム質量スペクトルを得る。【構成】 イオン源1と、粒子検出器6と、イオン源と検出器の間にある2個の別々の飛行時間装置3,5と、飛行時間装置の間の制御イオン励起装置4と、検出器6に到達する粒子の飛行時間を測定する装置と、を含み、全てが一つの共通の経路上にあり、イオン光学系がイオン源からのイオン飛行をイオン経路内に維持し、コンピュータ制御装置が励起装置4と光学系を制御する。

Claim (excerpt)：

異なる質量の親イオンを相互に分離することなく、各親イオンのタンデム質量スペクトルを得る能力のあるタンデム質量分析計装置であって;a) イオン源、b) 粒子検出器、c) 該イオン源と該検出器の間にある2個の別々の飛行時間装置、d) 該飛行時間装置の間にある制御イオン励起装置、e) 該検出器に到達する粒子の飛行時間を測定する装置;を含み、全てが一つの共通なイオン経路上にあり、イオン光学系が該イオン源からのイオン飛行を該イオン経路内に維持し、コンピュータ制御装置が該励起装置と該光学系を制御している、装置。

IPC (2)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62