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J-GLOBAL ID:200903002653627791
食品用X線異物検査装置およびその方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
村上 友一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008071504
Publication number (International publication number):2009229100
Application date: Mar. 19, 2008
Publication date: Oct. 08, 2009
Summary:
【課題】被検査物中の異物を高精度または高速度で検出できる食品用X線異物検査装置およびその方法を提供する。【解決手段】本発明の食品用X線異物検査装置10は、被検査物12にX線を照射するX線発生部20と、前記被検査物12を透過した前記X線を検出するX線検出部30とを備えたX線異物検査装置において、前記X線検出部30のX線透過画像データを、異なる分割数で複数の画像に分割し、分割画像毎に閾値を設定して2値化して、得られた各ピクセルの2値化結果を多数決で異物13の有無の判定を行う画像処理部40を備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt):
被検査物にX線を照射するX線発生部と、前記被検査物を透過した前記X線を検出するX線検出部とを備えた食品用X線異物検査装置において、
前記X線検出部が出力したX線透過画像データから分割数の異なる複数の分割画像を生成し、前記分割画像のブロック毎に閾値を算出し2値化して、前記分割画像のピクセル毎の2値化結果に基づいて異物の有無を多数決で判定する画像処理部を備えたことを特徴とする食品用X線異物検査装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001FA02
, 2G001GA12
, 2G001KA01
, 2G001LA01
, 2G001PA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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X線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-183118
Applicant:アンリツ産機システム株式会社
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X線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-165627
Applicant:アンリツ産機システム株式会社
Cited by examiner (5)
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放射線異物検査装置および放射線異物検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-410502
Applicant:株式会社イシダ
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濡れ性測定装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-077730
Applicant:株式会社東芝
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物体の判別方法および判別装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-040054
Applicant:日立造船株式会社
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X線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-165627
Applicant:アンリツ産機システム株式会社
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X線異物検出方法及びX線異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-211393
Applicant:アンリツ産機システム株式会社
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