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J-GLOBAL ID：200903002704337050

電磁波発生源探査方法及びそれに用いる電流プローブ

Inventor：
船戸 裕樹

About 船戸 裕樹

, 
須賀 卓

About 須賀 卓


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005271318
Publication number (International publication number)：2007085741
Application date： Sep. 20, 2005
Publication date： Apr. 05, 2007
Summary：
【課題】基板単体のEMI対策を完遂したとしても、基板を格納する筐体(フレームやシャーシ等)に実装した時点で、不要電磁放射のレベルが変化してしまい、筐体全体として新たに不要電磁波が発生してしまうという問題があった。【解決手段】回路基板や電子機器等と筐体の接合部に流れる電流を、実装動作状態において測定可能とする接合部電流プローブを提供すべく、円形又は矩形状の中心に穴があいた絶縁体と、鎖交磁束を電圧に変換する為のコイル状の導体と、周囲との電気的接触を防ぐ為の絶縁体と、導体の両端とケーブルを接続する引き出し部と、測定器へ接続する為のケーブルを有し、筐体実装状態を変化させない範囲で薄型化した事を特徴とする電流プローブ構造を提供する。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
基板が実装された筐体の電磁波発生源探査方法であって、 前記基板と前記筐体とを接続する複数の接合部材を流れる電流を測定して探査することを特徴とする電磁波発生源探査方法。
IPC (1)：
G01R 29/08
FI (1)：
G01R29/08 D
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 磁界プローブ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-348266   Applicant：株式会社日立製作所
  • 電磁波発生源探査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-084749   Applicant：株式会社日立製作所
Cited by examiner (11)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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