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J-GLOBAL ID：200903002758354138

電子透かしの性能評価方法及びシステム、記録媒体

Inventor： 田中 宏征 ,  中嶋 正臣
Applicant, Patent owner： 株式会社エヌ・ティ・ティ・データ
Agent (1)： 鈴木 正剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998333670
Publication number (International publication number)：2000165643
Application date： Nov. 25, 1998
Publication date： Jun. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】 電子透かしの性能評価が容易な性能評価システムを提供する。【解決手段】 ユーザが評価を求める条件を攻撃条件設定部12に設定する。試験実行部15は、透かし情報が埋め込まれた電子画像に対して、上記設定された攻撃条件に基づく無力化攻撃を擬似的に自動実行する。評価部16は、当該電子画像における透かし情報の残存度合い又は画質の劣化度合いを定量的に評価し、その評価結果データを試験結果DB17に保存する。電子透かしの定性的な評価を行うときは、試験結果DB17から各種攻撃条件に基づく電子画像を読み出して原画像と共に出力装置に一覧表示し、画質の劣化程度を視認可能にする。また、特定の電子画像が選択されたときは、該当する評価結果データを出力する。

Claim (excerpt)：

電子画像に埋め込まれた透かし情報を無意味なものにするための無力化攻撃に対する電子透かしの性能を評価する方法であって、前記透かし情報が埋め込まれた電子画像に対して、随時変更可能な所定の攻撃条件に基づく前記無力化攻撃を擬似的に自動実行して当該電子画像における前記透かし情報の残存度合いを定量的に評価する過程を含む、電子透かしの性能評価方法。

IPC (3)：

H04N 1/387 ,  G06T 1/00 ,  G09C 5/00

FI (3)：

H04N 1/387 ,  G09C 5/00 ,  G06F 15/62 A

F-Term (19)：

5B050EA19 ,  5B050EA21 ,  5B050GA07 ,  5C076AA12 ,  5C076AA14 ,  5J104AA14 ,  5J104AA46 ,  5J104PA14 ,  9A001CC07 ,  9A001EE02 ,  9A001EE03 ,  9A001EE04 ,  9A001HH27 ,  9A001HH31 ,  9A001JJ25 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK37 ,  9A001LL03 ,  9A001LL08