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J-GLOBAL ID：200903002773608634
横波斜角用超音波アレイ探傷方法及びこの探傷方法に使用 されるアレイ型探傷装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
大橋 弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994195052
Publication number (International publication number)：1996062188
Application date： Aug. 19, 1994
Publication date： Mar. 08, 1996
Summary：
【要約】【目的】 横波斜角用超音波アレイ探傷において、高精度化を計る。【構成】 アレイ探触子1内の複数個の振動子3を同時に駆動し、かつこの駆動タイミングを制御することにより、被検体に対して横波のみを入射すると共に焦点位置を制御する横波斜角用超音波アレイ探傷方法及びその装置。
Claim (excerpt)：
複数個の振動子を同時に駆動し、かつこの駆動タイミングを制御することにより、被検体に対して横波のみを入射し、かつその入射の角度及び焦点位置を制御し、また使用する振動子群を選択的に行うことで走査を行う横波斜角用超音波アレイ探傷方法。
IPC (2)：
G01N 29/04 502
, G01N 29/24 502
