Pat
J-GLOBAL ID:200903002824432269
半導体チップのリペア方法とリペアツール
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
金田 暢之 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002061553
Publication number (International publication number):2003258026
Application date: Mar. 07, 2002
Publication date: Sep. 12, 2003
Summary:
【要約】【課題】 基板の両面に実装されたBGA型半導体チップであっても、反対面に実装されているBGA型半導体チップのはんだ付け品質を低下させないでリペアが可能な、効率的な半導体チップのリペア方法とリペアツールを提供する。【解決手段】 リペアツール20は、半導体チップ12が収納可能な空間を形成し、隣接する半導体チップとの間に挿入可能な外壁21と、外壁21に支持されている中央部の吸引ノズル22と、下部に設けられたヒートブロック24とを備えている。吸引ノズル22は接触した半導体チップ12の上面を不図示の真空機構により吸着する。外壁21とヒートブロック24との間には外部から導入された熱風を噴出させるためのエア流出口23が形成されている。吸引ノズル22は半導体チップ12の上面を吸着して半導体チップ12を移動させ、ヒートブロック24は半導体チップ12を上面から加熱する。
Claim (excerpt):
BGAパッケージを有する半導体チップが基板の両面に複数搭載されている半導体パッケージにおいて、個々の半導体チップを交換するための半導体チップのリペア方法であって、前記半導体パッケージの中の交換対象の半導体チップを、リペアツールを備えたリペアマシンの所定の位置に配置し、前記半導体チップが収納可能な空間を形成していてかつ隣接する半導体チップとの間に挿入可能な外壁と、前記空間の中央部に設けられて前記半導体チップを吸着可能な吸引ノズルと、前記空間の下部に設けられたヒートブロックとを備えた前記リペアマシンの前記リペアツールを、前記半導体チップの上に降下させて、前記吸引ノズルの吸着口を前記半導体チップの上面に接触させ、前記ヒートブロックに通電して前記半導体チップを上面から加熱するとともに、前記外壁と前記ヒートブロックとの間の空間に熱風を送り込んで該半導体チップの側面と下面とを加熱し、該半導体チップと前記基板とを接合しているはんだが溶融したら、前記吸引ノズルを経由して真空吸引して該半導体チップを該吸引ノズルに吸着し、前記リペアマシンによって、前記リペアツールを介して該半導体チップを所定の場所に移動させ、真空吸引を解除して該半導体チップを開放し、所定の場所から代替の半導体チップを前記リペアツールで吸着して、前記基板の所定の位置に移動させ、該リペアツールを降下させて該半導体チップを基板上の所定の位置に配置し、前記ヒートブロックに通電して該半導体チップを上面から加熱するとともに、前記外壁と前記ヒートブロックとの間の空間に熱風を送り込んで該半導体チップの側面と下面とを加熱し、該半導体チップと前記基板とを接合させるためのはんだが溶融したら、前記吸引ノズルの真空吸引を解除して該半導体チップを開放し、前記リペアツールを所定の位置に移動させる、ことを特徴とする半導体チップのリペア方法。
IPC (2):
H01L 21/60 311
, H05K 3/34 510
FI (2):
H01L 21/60 311 Q
, H05K 3/34 510
F-Term (11):
5E319AA03
, 5E319AB05
, 5E319AC01
, 5E319BB04
, 5E319CC33
, 5E319CC49
, 5E319CC58
, 5E319CD04
, 5E319CD57
, 5E319GG15
, 5F044PP15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
-
特開昭63-318133
-
MCMキャリア
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-292844
Applicant:日本電気株式会社
-
半導体チップ実装構造
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-096010
Applicant:キヤノン株式会社
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