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J-GLOBAL ID：200903002840863490

静電容量式測定装置およびその製造方法

Inventor： 小泉 博 ,  鈴木 民雄
Applicant, Patent owner： 株式会社ミツトヨ
Agent (1)： 木下 實三 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993290675
Publication number (International publication number)：1995139904
Application date： Nov. 19, 1993
Publication date： Jun. 02, 1995
Summary：

【要約】【目的】 本発明の目的は、量産効率の良好な静電容量式測定装置およびその製造方法を提供することにある。【構成】測定の基準となるメインスケール20を有する本体1に対するスライダ10の移動変位量を静電容量の変化から検出して測定を行う静電容量式のノギスについて、絶縁体フィルム製の基板22の表面に所定ピッチで複数の電極21を導電性インクにより印刷してメインスケール20を製作する一方、合成樹脂を射出成形して本体1およびスライダ10を製作する。これにより、同一のものを大量に製作することを容易にする。

Claim (excerpt)：

測定の基準となるメインスケールを有する本体に対して移動自在にされた検出子を有し、この検出子の本体に対する移動変位量を検出して測定を行う静電容量式の測定装置であって、前記メインスケールは絶縁体フィルムからなる基板の表面に所定のピッチで複数の電極を導電性インクで印刷したものであることを特徴とする静電容量式測定装置。

IPC (2)：

G01B 7/00 ,  G01B 3/20 101