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J-GLOBAL ID：200903002841061355

シリアルスキャンチェーンにおける不良フリップフロップの検出方法

Inventor： 河野 武司
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 山川 雅男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993018504
Publication number (International publication number)：1994230075
Application date： Feb. 05, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：

【要約】【目的】本発明はシリアルスキャンチェーンにおける不良フリップフロップの検出方法に関し、不良箇所の特定を簡単に行うことのできるようにすることを目的とする。【構成】 シリアルスキャンチェーンを構成するフリップフロップFFをリセット、プリセット可能に構成し、先ず、各フリップフロップFFを所定のビット値にセットした後、スキャンシフトし、次いで、前記シリアルスキャンチェーンからの出力ビット列とセットしたビット列とを比較して不良フリップフロップFFを特定するように構成する。

Claim (excerpt)：

シリアルスキャンチェーンを構成するフリップフロップ(FF)をリセット、プリセット可能に構成し、先ず、各フリップフロップ(FF)を所定のビット値にセットした後、スキャンシフトし、次いで、前記シリアルスキャンチェーンからの出力ビット列とセットしたビット列とを比較して不良フリップフロップ(FF)を特定するシリアルスキャンチェーンにおける不良フリップフロップの検出方法。

IPC (2)：

G01R 31/28 ,  H03K 21/40