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J-GLOBAL ID:200903002966895320
導電率測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
東野 博文
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997302477
Publication number (International publication number):1999142355
Application date: Nov. 05, 1997
Publication date: May. 28, 1999
Summary:
【要約】【課題】 サンプル液やバッファ液の滞留がなく、安定に測定出来て精度が向上出来、小型化出来る導電率測定装置を提供するにある。【解決手段】 測定流体の導電率を測定する導電率測定装置において、基板に設けられた液流路と、この液流路の下流に設けられた少なくとも2個の分岐流路と、この分岐流路の分岐部分からこの分岐流路内にかけてそれぞれ設けられ前記測定流体の導電率を測定する2個の導電率測定電極とを具備したことを特徴とする導電率測定装置である。
Claim (excerpt):
測定流体の導電率を測定する導電率測定装置において、基板に設けられた液流路と、この液流路の下流に設けられた少なくとも2個の分岐流路と、この分岐流路の分岐部分からこの分岐流路内にかけてそれぞれ設けられ前記測定流体の導電率を測定する2個の導電率測定電極とを具備したことを特徴とする導電率測定装置。
IPC (4):
G01N 27/07
, G01N 27/447
, G01N 30/60
, G01N 30/64
FI (5):
G01N 27/07
, G01N 30/60 B
, G01N 30/64 A
, G01N 27/26 325 Z
, G01N 27/26 331 J
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