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J-GLOBAL ID：200903002984782266

表示装置

Inventor：
木村 洋平

About 木村 洋平

, 
中山 浩治

About 中山 浩治


Applicant, Patent owner：
東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社

About 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社


Agent (8)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006188465
Publication number (International publication number)：2008015367
Application date： Jul. 07, 2006
Publication date： Jan. 24, 2008
Summary：
【課題】信頼性試験における不良の発生及び製造歩留まりの低下を防止することが可能な検査部を備えた表示装置を提供することを目的とする。【解決手段】 表示装置において、アクティブエリアの検査を行うための検査部は、アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部55A、及び、主要部55Aから離間した島状の電極部55Bを有する検査用配線55と、主要部55Aと信号供給配線との間に配置され電極部55Bをゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子61及び62と、検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに画素電極と同一材料によって形成され絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して主要部55Aと電極部55Bとを電気的に接続するジャンバー部Jと、を備えたことを特徴とする。【選択図】 図4
Claim 1：
それぞれ画素電極を備えた複数の画素、及び、各画素に駆動信号を供給するための複数の信号供給配線を有するアクティブエリアと、 前記アクティブエリア外に配置され、前記アクティブエリアの検査を行うための検査部と、を備え、 前記検査部は、 前記アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部、及び、主要部から離間した島状の電極部を有する検査用配線と、 前記主要部と前記信号供給配線との間に配置され、前記電極部をゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子と、 前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに前記画素電極と同一材料によって形成され、前記絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して前記主要部と前記電極部とを電気的に接続するジャンバー部と、 を備えたことを特徴とする表示装置。
IPC (3)：
G09F 9/30 ,  G02F 1/136 ,  G09F 9/00
FI (4)：
G09F9/30 330Z ,  G02F1/1368 ,  G09F9/30 338 ,  G09F9/00 352
F-Term (18)：
2H092JA25 ,  2H092JB56 ,  2H092JB77 ,  2H092MA56 ,  2H092NA29 ,  2H092NA30 ,  5C094AA31 ,  5C094AA42 ,  5C094BA03 ,  5C094BA27 ,  5C094BA43 ,  5C094DA09 ,  5C094DA13 ,  5C094DB01 ,  5C094EA03 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435KK10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (9)
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Cited by examiner (8)
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