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J-GLOBAL ID：200903003033496065
電子回路検査方法および電子回路検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石井 康夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994038060
Publication number (International publication number)：1995244121
Application date： Mar. 09, 1994
Publication date： Sep. 19, 1995
Summary：
【要約】【目的】 電子回路の不具合箇所の特定を容易に行なえ、さらに電子回路内の回路ブロックごとの不具合の検出を可能とした電子回路検査方法および電子回路検査装置を提供する。【構成】 電子回路システム1を動作させておき、基準電子回路6の入力側を被試験電子回路3の入力側に接続するとともに、被試験電子回路3の出力側から出力信号を取り出し、出力信号比較回路7において、被試験電子回路3と基準電子回路6の出力信号を比較することにより、被試験電子回路3の検査を行なう。また、レベル判定回路5により、被試験電子回路3の入力側に、前段電子回路2が正常に動作しているときには出力値として存在しない電圧レベルを与え、被試験電子回路3の入力側の電圧レベルを判定することにより、前段電子回路2の出力部の接続不良や電圧異常などの検査を行なうことができる。
Claim 1：
電子回路システム内部にある被試験電子回路を検査する電子回路検査方法において、電子回路システムを動作させ、前記被試験電子回路と同等の回路を持つ基準電子回路の入力側を前記被試験電子回路の入力側に接続するとともに前記被試験電子回路の出力側から出力信号を取り出し、前記被試験電子回路と前記基準電子回路の出力信号を比較することにより前記被試験電子回路の検査を行なうことを特徴とする電子回路検査方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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