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J-GLOBAL ID：200903003067174180

粒子分析装置

Inventor： 長井 孝明
Applicant, Patent owner： シスメックス株式会社
Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997353872
Publication number (International publication number)：1999183359
Application date： Dec. 22, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 正確に定量された量の試料流体を安定した流速で検出器に供給することができ、構成が簡単な粒子分析装置を提供する。【解決手段】 正確に定量された量の試料流体を検出器に安定した流速で流すための定量供給手段として、膜体と、膜体に仕切られる室とからなり、各室の内壁には流通口部が形成され、一方の室の流通口部が圧力源と接続され、他方の室の流通口部が検出器と接続されるポンプを備え、圧力源の切り替えにより、膜体が一方の室に密着した状態から他方の室に密着した状態へと作動させて、試料流体を検出器に流すように構成する。

Claim (excerpt)：

試料流体中の粒子を測定する粒子分析装置において、一定量の試料流体を検出器に流すための定量供給手段として、膜体と、この膜体で仕切られる室とからなり、各室の内壁には流通口部が形成され、一方の室の流通口部が圧力源と接続され、他方の室の流通口部が検出器と接続されてなるポンプを備え、さらにこのポンプは、圧力源の切り換えにより、膜体が一方の室の内壁に密着した状態から他方の室の内壁に密着した状態へと作動させ、試料流体を検出器に流すよう構成されたことを特徴とする粒子分析装置。

IPC (5)：

G01N 15/14 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/00 ,  G01N 15/12 ,  G01N 33/49

FI (5)：

G01N 15/14 E ,  G01N 1/00 101 G ,  G01N 1/00 101 M ,  G01N 15/12 C ,  G01N 33/49 F

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開平4-324925
  

Cited by examiner (1)

• 特開平4-324925