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J-GLOBAL ID:200903003093873437

X線検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小野 由己男 ,  加藤 秀忠 ,  山下 託嗣
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003166297
Publication number (International publication number):2005003480
Application date: Jun. 11, 2003
Publication date: Jan. 06, 2005
Summary:
【課題】X線照射器とX線ラインセンサとの間を通る検体の位置や姿勢がずれた場合にも検体の検査を適切に行うことができるX線検査装置を提供する。【解決手段】X線検査装置は、X線照射器と、X線ラインセンサと、画像処理ルーチンと、検査判定処理ルーチンとを備える。X線ラインセンサは、X線照射器からのX線を受光する。画像処理ルーチンは、X線による生画像を画像処理して、加工画像を作る。検査判定処理ルーチンは、加工画像に基づき検体の検査を行う。また、画像処理ルーチンは、生画像から検体と背景(検体の外側の部分)との境界線S11〜S14を抽出する工程を経て、加工画像を作る。そして、検査判定処理ルーチンは、加工画像の境界線S11〜S14の内側領域を対象として、検査を行う。【選択図】 図10
Claim 1:
X線を照射するX線源と、 前記X線源からのX線を受光するX線受光部と、 前記X線受光部で受光したX線による生画像を画像処理して加工画像を作る画像処理部と、 前記加工画像に基づき、前記X線源と前記X線受光部との間を通る検体の検査を行う検査部と、 を備え、 前記画像処理部は、前記生画像から前記検体と前記検体の外側の背景との境を抽出する工程を経て前記加工画像を作り、 前記検査部は、前記加工画像の前記境の内側領域を対象として、前記検査を行う、 X線検査装置。
IPC (1):
G01N23/04
FI (1):
G01N23/04
F-Term (16):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001JA09 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA05 ,  2G001LA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  2G001SA10 ,  2G001SA13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
  • X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-034016   Applicant:アンリツ株式会社
  • X線検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-097162   Applicant:株式会社島津製作所, 株式会社キリンテクノシステム
  • X線検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-335214   Applicant:株式会社イシダ, 株式会社東研
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