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J-GLOBAL ID：200903003137566103

液晶パネルの表示面検査方法及び装置

Inventor： 上島 基弘 ,  行田 幸三 ,  小幡 文雄
Applicant, Patent owner： セイコーエプソン株式会社
Agent (1)： 鈴木 喜三郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996069641
Publication number (International publication number)：1997257641
Application date： Mar. 26, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：

【要約】【課題】 液晶パネルの表示面検査において、従来よりも表示不良や表示欠陥を確実に発見できる表示面検査方法又は装置を実現する。【解決手段】 白色蛍光灯等で構成された光照射手段10の上方には第1の偏光板11が配置され、光軸を中心に回転可能に構成されている。第1の偏光板11の上方には液晶パネル12が配置され、この液晶パネル12には交流電源13から所定の駆動電圧が印加されるように構成される。液晶パネル12の上方には第2の偏光板14が配置され、光軸を中心に回転可能に構成されている。第2の偏光板14の上方には集光手段15が配置され、この集光手段15は、例えば顕微鏡、CCD(電荷結合素子)カメラ等で構成される。

Claim (excerpt)：

偏光板貼付工程前の液晶パネルに、偏光板を介して前記液晶パネルの表示面を観察することにより検査を行う液晶パネルの表示面検査方法において、前記液晶パネルの平面配向方向に対して前記偏光板貼付工程における偏光板の偏光軸の方向を基準方向とし、前記偏光板を該基準方向にした基準状態を観察するとともに、前記偏光板を光軸を中心として回転させながら前記表示面を観察することを特徴とする液晶パネルの表示面検査方法。

IPC (4)：

G01M 11/00 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/88 ,  G02F 1/1335 510

FI (4)：

G01M 11/00 T ,  G01B 11/30 C ,  G01N 21/88 Z ,  G02F 1/1335 510