Pat

J-GLOBAL ID：200903003148312723

顕微赤外ATR測定装置

Inventor： 宮田 浩克
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 伊東 哲也 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991185898
Publication number (International publication number)：1993010872
Application date： Jul. 01, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】赤外分光分析において特定微小部分のATR(全反射吸収)スペクトルを測定することができる装置を提供する。【構成】半球状若しくは上部をカットした半球状のゲルマニウム、若しくはシリコンまたはそれらに類似する赤外光透過性でかつ高屈折率を有する材質のプリズムと、該プリズムの側面からスペクトル測定のための赤外光を入射させ、入射光を該プリズムの底面に集光、全反射させ、反射光を赤外分光光度計の検出器に導くための光学系を有する顕微赤外ATR測定装置において、プリズムの上部から試料観察のための赤外光を入射し、該プリズムの底面に焦点を結び、かつ該赤外線を検出し画像を表示させることのできる手段を設けた。

Claim (excerpt)：

赤外光に対し透過性でかつ高屈折率を有する材質の、半球状または半球の底面と平行な面で上部をカットした形状のプリズムと、該プリズムの外周面からスペクトル測定のための赤外光を入射させ、入射光を該プリズムの底面に集光、全反射させ、反射光を赤外分光光度計の検出器に導くための光学系とを有する顕微赤外ATR測定装置であって、前記プリズムの上部または頂部から試料観察のための赤外光を入射し、該プリズムの底面に焦点を結び、かつ該赤外線を検出し画像を表示させる手段を備えた赤外顕微鏡を有することを特徴とする顕微赤外ATR測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-223847
  
• 特開昭62-220834
  
• 特開昭62-140050