Pat
J-GLOBAL ID:200903003208039096
サンプル収集および試験システム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
浅村 皓 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000604203
Publication number (International publication number):2002539425
Application date: Mar. 10, 2000
Publication date: Nov. 19, 2002
Summary:
【要約】サンプル中の対象となる分析物の同定のための試験装置であって、内側凹部を有するハウジング(14)、サンプル収集装置(19)、少なくとも1つの挿入可能な試験要素(20)を含み、前記ハウジングは前記内側凹部内に前記サンプル収集装置を収容し、前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルを遮蔽するように適合しており、前記ハウジングは前記1つのまたはそれぞれの挿入可能な試験要素を収容するようにも適合しており、したがって前記試験要素の前記ハウジングへの挿入によって、前記試験要素が前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルと液体伝導式に連通する試験装置。
Claim (excerpt):
サンプルの収集および試験の際に使用するための装置であって、 a.内側凹部を有するハウジング b.サンプル収集装置 を含み、前記ハウジングは前記内側凹部内に前記サンプル収集装置を収容し、前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルを遮蔽するようにされ、前記ハウジングは挿入可能な試験要素を収容するようにされ、したがって前記試験要素の前記ハウジングへの挿入によって、前記試験要素が前記サンプル収集装置上で収集されたサンプルと液体伝導式に連通する装置。
IPC (7):
G01N 1/28
, G01N 1/00 101
, G01N 1/04
, G01N 33/48
, G01N 33/543 521
, G01N 33/543 525
, G01N 1/10
FI (7):
G01N 1/00 101 G
, G01N 1/04 V
, G01N 33/48 S
, G01N 33/543 521
, G01N 33/543 525 G
, G01N 1/10 V
, G01N 1/28 J
F-Term (11):
2G045AA01
, 2G045CA25
, 2G045FB03
, 2G045FB15
, 2G045HA14
, 2G052AA28
, 2G052BA19
, 2G052CA04
, 2G052DA08
, 2G052GA27
, 2G052GA30
Patent cited by the Patent:
Return to Previous Page