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J-GLOBAL ID：200903003245075043

計装用ガス中の懸濁物質分析装置

Inventor： 射延 三嘉 ,  厚見 真喜男
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 塚本 正文 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995286775
Publication number (International publication number)：1997101261
Application date： Oct. 06, 1995
Publication date： Apr. 15, 1997
Summary：

【要約】【課題】 プラント等の稼動中常に流れている計装用ガス中の懸濁物質を当該環境下のままで分析,評価し、更にそれらの成分及び経時変化を直接分析,評価することができる。【解決手段】 計装用ガス管1の分岐管4に配設され光入射窓11及び光出口窓12を有し内部に計装用ガスを封入又は流通させる計装用ガス容器部10と、計装用ガス容器部10内にガス中懸濁物質を原子化するためのプラズマを発生させるマイクロ波発振部20と、計装用ガス容器部10内へ入射する可視,紫外光ビームを発生する光源部30と、計装用ガス容器部10内プラズマ中のガス中懸濁物質からの光を分光記録し演算する分光記録演算装置部40とを具えている。

Claim (excerpt)：

計装用ガス管の分岐管に配設され光入射窓及び光出口窓を有し内部に計装用ガスを封入又は流通させる計装用ガス容器部と、上記計装用ガス容器部内にガス中懸濁物質を原子化するためのプラズマを発生させるマイクロ波発振部と、上記計装用ガス容器部内へ入射する可視,紫外光ビームを発生する光源部と、上記計装用ガス容器部内プラズマ中のガス中懸濁物質からの光を分光記録し演算する分光記録演算装置部とを具えたことを特徴とする計装用ガス中の懸濁物質分析装置。