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J-GLOBAL ID:200903003304817342

旋光度測定方法及びその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岩橋 祐司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007041804
Publication number (International publication number):2008203170
Application date: Feb. 22, 2007
Publication date: Sep. 04, 2008
Summary:
【課題】本発明の目的は、測定の迅速化とS/N比の向上とを両立することのできる旋光度測定方法を提供することにある。【解決手段】試料温度制御手段16による試料温度の規定温度への変温過程において、旋光度測定装置10による試料の旋光度測定を開始し、該変温過程での試料の温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得工程(S10)と、該試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、該旋光度データ取得工程(S10)で得られた温度データと旋光度データとの直線関係を求めるデータ処理工程(S12)とを備え、規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定方法。【選択図】図1
Claim (excerpt):
試料温度を規定温度へ制御する試料温度制御手段を備えた旋光度測定装置を用いて、規定温度での試料の旋光度を求める旋光度測定方法において、 前記試料温度制御手段による試料温度の規定温度への変温過程において、前記旋光度測定装置による試料の旋光度測定を開始し、該試料の変温過程での温度データと共に旋光度データを経過時に得る旋光度データ取得工程と、 前記試料の旋光度が測定温度と比例関係にあることを利用して、前記旋光度データ取得工程で得られた旋光度データと温度データとの直線関係を求めるデータ処理工程と、 を備え、前記規定温度への変温過程での試料の温度データと旋光度データとの直線関係に基づいて、該試料の規定温度における旋光度ないし該試料の温度依存性を求めることを特徴とする旋光度測定方法。
IPC (1):
G01N 21/19
FI (1):
G01N21/19
F-Term (8):
2G059AA02 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059CC20 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059FF04 ,  2G059NN02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 旋光度測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-213145   Applicant:松下電器産業株式会社
  • 旋光計
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2003-576908   Applicant:ルドルフ・リサーチ・アナリティカル
  • 比旋光計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-186245   Applicant:株式会社堀場製作所
Cited by examiner (2)
  • 比旋光計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-186245   Applicant:株式会社堀場製作所
  • 旋光計
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2003-576908   Applicant:ルドルフ・リサーチ・アナリティカル
Article cited by the Patent:
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