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J-GLOBAL ID：200903003327350921
エンドミルの評価方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
佐藤 辰彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993084744
Publication number (International publication number)：1994297297
Application date： Apr. 12, 1993
Publication date： Oct. 25, 1994
Summary：
【要約】【目的】 スクエアエンドミルの信頼性の高い評価を短時間で得る。【構成】 スクエアエンドミル2を試験片1の前側面部3の幅方向に沿って移動させて、該スクエアエンドミル2の外周刃4及び底刃5による試験片1の前側面部3及び平面部前側縁6に対する平面切削、上り切削及び下り切削を行って、スクエアエンドミル2の外周刃4及び底刃5による試験片1の前側面部3及び平面部前側縁6に対する平面切削データ、下り切削データ及び上り切削データを得る。
Claim (excerpt)：
試験片をエンドミルで切削し該切削データに基づいて前記エンドミルの評価を行うエンドミルの評価方法であって、前記エンドミルを前記試験片の側面部の幅方向に沿って移動させることにより該エンドミルの外周刃によって前記側面部に対して平面切削を行うとともに該エンドミルの底刃によって前記試験片の平面部側縁に対して平面切削を行う平面切削工程と、前記エンドミルを前記側面部の幅方向に沿って移動させつつ該エンドミルを軸方向下方に移動させて前記外周刃によって前記側面部に対して所定角度の勾配の下り切削を行うとともに前記底刃によって前記平面部側縁に対して所定角度の勾配の下り切削を行う下り切削工程と、前記エンドミルを前記側面部の幅方向に沿って移動させつつ該エンドミルの軸方向上方に移動させて前記外周刃によって前記側面部に対して所定角度の勾配の上り切削を行うとともに前記底刃によって前記平面部側縁に対して所定角度の勾配の上り切削を行う上り切削工程とを備え、前記各工程を組み合わせて前記試験片の側面部及び平面部側縁を切削して得られた切削データに基づいて前記エンドミルの評価を行うことを特徴とするエンドミルの評価方法。
IPC (3)：
B23Q 17/09
, G01N 3/58
, B23C 5/10
