表面プラズモン共鳴質量分析法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山本秀策
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997511430
Publication number (International publication number)：1999512518
Application date： Sep. 06, 1996
Publication date： Oct. 26, 1999
Summary：

【要約】本発明は、分子相互作用を、迅速で、高感度かつ正確に調べるための表面プラズモン共鳴-質量分析を、分子相互作用の同定および定量化と共に提供する。本発明の方法は、サンプル内に存在する分析物を相互作用表面層によってリアルタイム相互作用分析センサ上に捕捉することと、分析物が相互作用表面層に捕捉されている間に表面プラズモン共鳴によって分析物を分析することと、質量分析計内を真空下において、分析物を相互作用表面層から脱着/イオン化することによって捕捉された分析物を同定することとを包含する。本発明のデバイスは、透明材料と、透明材料に固定された表面プラズモン共鳴を支持し得る導電材料と、導電材料に固定された相互作用表面と、質量分析計内を真空状態に保ちながら、相互作用表面を質量分析計の内部に曝す手段とを有する。

Claim (excerpt)：

サンプル内の分析物を分析および同定する方法であって、該分析物を、表面プラズモン共鳴を支持することができる導電材料に固定された相互作用表面層に接触させることによって該分析物を捕捉することであって、該導電材料が、該相互作用表面層に固定された前面と、透明層に固定された後面とを有する、該分析物を捕捉することと、光が該導電材料の該後面から反射し、該導電層と該相互作用表面層との間の界面における表面プラズモンを励起するように、変化する入射角または波長で該透明層を通して光を方向づけることと、該反射光の強度が表面プラズモン共鳴により最小値をとる入射角または波長を検出し、該相互作用表面層によって捕捉された該分析物によって引き起こされた角または波長の変化を決定することと、質量分析計内を真空下において、該分析物を該相互作用表面層から脱着/イオン化することによって該分析物の質量スペクトルを測定することと、を包含する方法。

IPC (3)：

G01N 21/27 , G01N 27/62 , G01N 33/543 595

FI (3)：

G01N 21/27 C , G01N 27/62 B , G01N 33/543 595

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

Cited by examiner (2)

Return to Previous Page