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J-GLOBAL ID：200903003431758703

粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996170251
Publication number (International publication number)：1998019761
Application date： Jun. 28, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 粒度分布測定結果等の各測定結果の多角的な検討が十分に行うことができる粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 レーザ光源により測定試料の粒子群にレーザ光を照射する一方、レーザ光検出センサにより空間的な光強度分布データを検出するとともに、粒度分布データ演算求出部14により粒度分布データを求出した後、粒度分布結果および光強度分布測定結果や随伴結果を粒度分布測定結果をTVモニタ19に映像表示するよう構成された粒度分布測定装置において、マルチ表示手段により、前記の各結果としてのグラフおよび数値表を、TVモニタ19に任意の大きさおよび位置に重畳表示する。

Claim (excerpt)：

測定試料である粒子群にレーザ光を照射する光照射手段と、前記粒子群による回折/散乱光を検出する光検出手段と、前記光検出手段から得られる回折/散乱光の空間的な光強度分布データと別途に指定される粒子群の相対屈折率とに基づきデータ処理を行って前記試料についての粒度分布データを求出する演算求出手段と、演算求出された粒度分布データに従って得られる粒度分布測定結果と前記光強度分布データに従って得られる光強度分布測定結果および前記両データの2次処理によって得られる随伴結果を映像表示する映像表示手段を備えている粒度分布測定装置において、前記映像表示手段の同一画面に、前記粒度分布結果および光強度分布測定結果と随伴結果の各結果としてのグラフおよび数値表を、任意大きさおよび位置に重畳表示するマルチ表示手段を備えていることを特徴とする粒度分布測定装置。