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J-GLOBAL ID：200903003486567400

実装品質の不良検出装置及び実装品質の不良検出方法

Inventor：
星野 祐之

About 星野 祐之


Applicant, Patent owner：
ソニー株式会社

About ソニー株式会社


Agent (2)： 角田 芳末 ,  伊藤 仁恭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005237904
Publication number (International publication number)：2007053264
Application date： Aug. 18, 2005
Publication date： Mar. 01, 2007
Summary：
【課題】高品質の製品をつくることが可能な実装品質の不良検出装置及び実装品質の不良検出方法を提供する。【解決手段】現在生産中の実装基板と同一種類の過去に生産された実装基板の品質データを格納する過去の品質データ記憶手段27を有する品質集計・管理コンピュータ21と、実装機プログラム作成コンピュータ20からの現在稼動中の実装機別の実装基板設計情報データ24及び実装機別の品質データ25から現在生産中の実装基板の品質データを集計し、不良率を算出する不良率算出手段26と、品質集計・管理コンピュータ21は、過去の品質データ記憶手段27からの過去の品質データと不良率算出手段26からの現在生産中の実装基板の品質データとを比較する比較手段29と、を具備し、比較手段29の不良率が所定の不良率を超えた時に警報手段又は停止手段を駆動するように成した実装品質の不良検出装置及びその方法を得る様にする。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
実装ラインにおける実装部品及び/又は実装基板の実装品質の不良検出装置に於いて、 実装機プログラム作成コンピュータ及び生産計画を管理するコンピュータからの現在生産中の基板の実装基板設計情報及び生産数情報と前記実装ラインにて生産されている基板の品質検査を自動的におこなう検査機からの検査結果データを集計し、基板種類単位・部品形状単位・生産に使われた実装機の種類単位のそれぞれでの不良率を算出する不良率算出手段と過去に生産したときの同一種類の基板の平均不良率、同一形状の部品の平均不良率、同一種類の実装機での平均不良率を格納する手段と、 を具備し、 前記不良率が過去に生産したときの不良率と比較して、所定の不良率を加算したものよりも多かった時に警報手段又は停止手段を駆動するように成したことを特徴とする実装品質の不良検出装置。
IPC (2)：
H05K 13/08 ,  G05B 19/418
FI (2)：
H05K13/08 D ,  G05B19/418 Z
F-Term (5)：
3C100AA56 ,  3C100AA57 ,  3C100BB05 ,  3C100BB27 ,  3C100EE07
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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