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J-GLOBAL ID：200903003491112543

軟判定復調用多次元疑似雑音発生回路

Inventor：
丸 次夫

About 丸 次夫


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 宇高 克己
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998287488
Publication number (International publication number)：2000115144
Application date： Oct. 09, 1998
Publication date： Apr. 21, 2000
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】 実験室内等の他の装置からの干渉を受けずに微妙な軟判定誤り訂正回路の誤り率特性を精度よく試験するための回路を提供する。【解決手段】 PN発生手段1と、所定の確率密度を積分した累積分布に基づくスレッショルドレベルが格納された第1メモリと、第1アドレス発生手段と、読み出されたデータとPN系列とを所定ビット長で比較する第1比較手段を有し、アドレスは比較手段からの結果を元に逐次更新され、比較終了時のアドレスを出力する疑似雑音発生回路3を有する。又別個に同じ構成のPN発生手段4、第2メモリ、第2アドレス発生手段、第2比較手段を有し、第2アドレス発生手段のアドレスは、第2比較手段の結果と疑似雑音発生回路3の出力を元に逐次更新され、比較終了時のアドレスを疑似雑音情報として出力する疑似雑音発生回路6を有する。
Claim 1：
二値系列の信号を発生するPN発生手段と、所定の確率密度に基づくスレッショルドレベルが格納されたメモリと、前記メモリのアドレスを発生するアドレス発生手段と、前記メモリから読み出されたデータとPN発生手段によって発生した二値系列とを予め定められたビット長で比較する比較手段とを有し、前記アドレス発生手段のアドレスは前記比較手段からの結果を元に逐次更新され、比較終了時のアドレスを疑似雑音情報として出力することを特徴とする軟判定復調用多次元疑似雑音発生回路。
IPC (4)：
H04L 1/24 ,  G01R 31/3183 ,  H04L 1/00 ,  H03K 3/84
FI (4)：
H04L 1/24 ,  H04L 1/00 D ,  H03K 3/84 Z ,  G01R 31/28 Q
F-Term (12)：
2G032AA01 ,  2G032AA07 ,  2G032AB01 ,  2G032AH03 ,  5J049AA07 ,  5J049AA15 ,  5J049AA17 ,  5J049AA27 ,  5J049AA33 ,  5J049CA08 ,  5K014GA04 ,  5K014GA06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開平2-245679
  • データ探索方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-267085   Applicant：松下電器産業株式会社
  • 伝搬路模擬装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-254796   Applicant：日本電信電話株式会社
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