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J-GLOBAL ID：200903003541529874

誘電緩和測定用マルチプローブ

Inventor： 内藤 智 ,  星 正人
Applicant, Patent owner： 花王株式会社
Agent (1)： 田治米 登 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996313133
Publication number (International publication number)：1998142169
Application date： Nov. 07, 1996
Publication date： May. 29, 1998
Summary：

【要約】【課題】 時間領域反射法(TDR法)などの誘電緩和測定にしたがい、試料の水分濃度を非破壊的に測定するにあたり、実用的な測定時間内で、精度よく、簡便に測定できるようにする。【解決手段】 芯線状の内部電極と、その内部電極に絶縁体を介して同軸状に配された外部電極からなり、内部電極の先端面と外部電極の先端面が使用に対する接触面となる誘電緩和測定用電極2が、複数内蔵されているマルチプローブ1Aを誘電緩和測定用プローブとする。このマルチプローブ1A内に設けられている複数の電極の電気長は、互いに異ならせるか、等しくする。

Claim (excerpt)：

芯線状の内部電極と、その内部電極に絶縁体を介して同軸状に配された外部電極とからなり、内部電極の先端面と外部電極の先端面が試料に対する接触面となる誘電緩和測定用電極が、一つのプローブ内に複数設けられていることを特徴とする誘電緩和測定用マルチプローブ。