Pat
J-GLOBAL ID：200903003560909483
低温漏洩試験方法と装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996296702
Publication number (International publication number)：1998142096
Application date： Nov. 08, 1996
Publication date： May. 29, 1998
Summary：
【要約】【課題】 低温で使用される中空体の低温漏洩試験を、短時間に、正確に、しかも液体窒素やへリウムガスなどを無駄にすることなく効率的に実施することができる低温漏洩試験方法と装置を提供する。【解決手段】 低温で使用される中空体を被試験体として低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガスを封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を行うことを特徴とする。
Claim (excerpt)：
低温で使用される中空体を被試験体として低温漏洩試験を実施する方法において、被試験体を真空容器内に収納し、この被試験体を、それに冷媒を直接触れさせることなく冷却し、被試験体内にトレーサガスを封入・加圧し、その漏洩の有無に基づいて漏洩試験を行うことを特徴とする低温漏洩試験方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01M 3/20 B
, G01M 3/32 A
