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J-GLOBAL ID：200903003629405377

測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置

Inventor：
松田 健次

About 松田 健次


Applicant, Patent owner：
国立大学法人九州工業大学

About 国立大学法人九州工業大学


Agent (2)： 中前 富士男 ,  中嶋 和昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007231836
Publication number (International publication number)：2009063438
Application date： Sep. 06, 2007
Publication date： Mar. 26, 2009
Summary：
【課題】例えば、金属、高分子材料、表面膜、又はその他の材料の硬さや力学的特性を評価するのに好適な測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置を提供する。【解決手段】測定物の表面状態試験方法は、ハンマ12の先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ11を、測定物16に衝突させ、衝突後のハンマ12の反発定数によって、測定物16の表面状況を評価する。これに使用する測定物の表面状態試験装置10は、円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ11と、チップ11が先端部に設けられたハンマ12と、ハンマ12を挟持し、測定物16とチップ11の間に隙間を設ける挟持手段13と、挟持手段13がハンマ12を放してチップ11を測定物16に衝突させた際に、ハンマ12の反発挙動を検出する検出手段14と、検出手段14の出力を表示又は記録する表示記録手段15とを有する。【選択図】図1
Claim 1：
ハンマの先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップを、測定物に衝突させ、衝突後の前記ハンマの反発定数によって、前記測定物の表面状況を評価することを特徴とする測定物の表面状態試験方法。
IPC (2)：
G01N 3/52 ,  G01N 3/303
FI (2)：
G01N3/52 ,  G01N3/303 B
F-Term (8)：
2G061AA13 ,  2G061AB04 ,  2G061BA20 ,  2G061CA01 ,  2G061CA09 ,  2G061EA02 ,  2G061EA10 ,  2G061EB07
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 反発係数測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-083382   Applicant：宮川浩臣
Cited by examiner (4)
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