Pat
J-GLOBAL ID:200903003629528541

シンチレーション検出器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 藤本 英夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003321978
Publication number (International publication number):2005091035
Application date: Sep. 12, 2003
Publication date: Apr. 07, 2005
Summary:
【課題】 ノイズレベルが高くなっても、非弾性散乱など放射線を精度よく検出することのできるシンチレーション検出器を提供すること。 【解決手段】 複数のシンチレータ素子11をそれらの間に光反射膜12を介して積層するとともに、前記各シンチレータ素子11の積層方向Xの厚みは、放射線による複数の螢光を隣接するシンチレータ素子11によって検出しうる程度に薄くされ、各シンチレータ素子11において得られる発光に基づく光を、当該シンチレータ素子11の端部断面部11aから取り出すようにしてある。 【選択図】 図3
Claim (excerpt):
複数のシンチレータ素子をそれらの間に光反射膜を介して積層するとともに、前記各シンチレータ素子の積層方向の厚みは、放射線による複数の螢光を隣接するシンチレータ素子によって検出しうる程度に薄くされ、各シンチレータ素子において得られる発光に基づく光を、当該シンチレータ素子における端部断面部から取り出すようにしてあることを特徴とするシンチレーション検出器。
IPC (1):
G01T1/20
FI (1):
G01T1/20 B
F-Term (8):
2G088EE01 ,  2G088EE02 ,  2G088FF04 ,  2G088GG13 ,  2G088GG14 ,  2G088GG16 ,  2G088GG18 ,  2G088GG20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page