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J-GLOBAL ID：200903003648798541
飛行時間型質量分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998174572
Publication number (International publication number)：2000011947
Application date： Jun. 22, 1998
Publication date： Jan. 14, 2000
Summary：
【要約】【課題】 低コストかつイオンのスループットが高い飛行時間型質量分析装置を実現する。【解決手段】 飛行時間型質量分析装置において、導電プラスチック筒体435’の両端に電位差が与えて筒の内部に一定勾配の電場を形成し、この電場でイオンを加速ないし反射するようにした。また、筒体の開口437を寸法比が4/10以下の細長い形状として、長寸法の方向に沿う等電位面の曲がりを少なし、グリッドを不要にした。
Claim (excerpt)：
電場形成手段が形成する電場を作用させたイオンの飛行時間に基づいて質量分析を行う飛行時間型質量分析装置であって、前記電場形成手段が両端に電位差が与えられた導電プラスチックの筒体である、ことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
H01J 49/40
, G01N 27/62 K
