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J-GLOBAL ID:200903003652611324
半導体レーザの光量制御装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995287167
Publication number (International publication number):1997123520
Application date: Nov. 06, 1995
Publication date: May. 13, 1997
Summary:
【要約】【課題】 過露光や露光不足が生じすることなく、従来例に比較して短い時間で、ある程度正確な半導体レーザの光量を設定することができる半導体レーザの光量制御装置を提供する。【解決手段】 印字のために感光体ドラム37を露光するレーザダイオード20を備えたレーザプリンタは、その光量を制御するCPU10を備えるとともに、当該光量を検出するフォトダイオード21と、上記検出された光量を所定のしきい値光量と比較して比較結果を示す比較信号COを出力するオペアンプ23のコンパレータと、コンパレータから出力される比較信号COに基づいてレーザダイオード20に電流を供給する定電流源22の供給電流の制御量を決定する判断部11とを備え、CPU10内の判断部11は、印字された前のラインの光量制御値DAに基づいて、光量検出の前に、印字すべき当該ラインの光量制御値DAを変更する。
Claim (excerpt):
半導体レーザの光量を制御する制御手段を備えた光量制御装置において、上記半導体レーザの光量を検出する光量検出手段と、上記光量検出手段によって検出された光量を所定のしきい値光量と比較して比較結果を示す比較信号を出力する比較手段と、上記比較手段から出力される比較信号に基づいて上記半導体レーザに供給する電流の制御量を決定する決定手段とを備え、上記制御手段は、上記決定手段によって決定された、印字された前のラインの制御量に基づいて、上記光量検出手段による光量検出の前に、印字すべき当該ラインの制御量を変更することを特徴とする半導体レーザの光量制御装置。
IPC (6):
B41J 2/44
, H01S 3/096
, H01S 3/103
, H01S 3/133
, H04N 1/113
, H04N 1/23 103
FI (6):
B41J 3/00 D
, H01S 3/096
, H01S 3/103
, H01S 3/133
, H04N 1/23 103 Z
, H04N 1/04 104 Z
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