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J-GLOBAL ID：200903003673749040

被検体の物性計測・評価方法

Inventor： 藤島 一雄
Applicant, Patent owner： 日立建機株式会社
Agent (1)： 渡部 敏彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991223440
Publication number (International publication number)：1993040108
Application date： Aug. 08, 1991
Publication date： Feb. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】 超音波の減衰率の大きな被検体の状態を計測・評価できる被検体の物性計測・評価方法を提供する。【構成】 被検体8の表面に膜9を形成し、該膜9を形成することによって励起されるモードの表面波を使って被検体8の状態の計測・評価を行う。

Claim (excerpt)：

被検体と超音波顕微鏡との距離を変化させながら、該超音波顕微鏡で前記被検体からの反射波を検出し、該反射波及び前記距離に基づいて前記被検体の状態を計測又は評価する被検体の物性計測・評価方法において、前記被検体の表面に膜を形成し、該膜を形成することによって励起される表面波と前記距離に基づいて前記被検体の状態を計測又は評価することを特徴とする被検体の物性計測・評価方法。

IPC (2)：

G01N 29/20 501 ,  G01N 29/22