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J-GLOBAL ID：200903003689349204

3次元測定装置の制御方式

Inventor： 藤田 悟朗
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社
Agent (1)： 丸山 敏之 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992314534
Publication number (International publication number)：1994161533
Application date： Nov. 25, 1992
Publication date： Jun. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 CADデータのない測定物に対しても、測定作業の完全自動化が可能な3次元測定装置の制御方式を提供する。【構成】 測定物3の表面を倣い移動すべき測定子2を具えた3次元測定機1と、測定子2の測定経路を数値制御すべき制御用コンピュータ6とを具えた3次元測定装置の制御方式において、3次元測定機1上には、測定物3を撮影すべきCCDカメラ9を配置し、該CCDカメラ9の出力信号に画像処理を施して測定物3の輪郭形状を認識し、該認識結果に基づいて測定子2の測定経路を生成して、制御用コンピュータ6にティーチングする。

Claim (excerpt)：

測定物(3)の表面を倣い移動すべき測定子(2)を具えた3次元測定機(1)と、測定子(2)の測定経路を数値制御すべき制御用コンピュータ(6)とを具えた3次元測定装置において、3次元測定機(1)上には、測定物(3)を撮影すべきCCDカメラ(9)を配置し、該CCDカメラ(9)の出力信号に画像処理を施して測定物(3)の輪郭形状を認識し、該認識結果に基づいて測定子(2)の測定経路を生成して、制御用コンピュータ(6)にティーチングすることを特徴とする3次元測定装置の制御方式。

IPC (2)：

G05B 19/405 ,  G05B 19/19