Pat
J-GLOBAL ID:200903003739805753
SRAMセル
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005065896
Publication number (International publication number):2006252639
Application date: Mar. 09, 2005
Publication date: Sep. 21, 2006
Summary:
【課題】本発明は、ROM領域を混載するSRAMセルに関する。【解決手段】SRAMセル1は、2個のゲートFETQ11、Q12と、2個のPchFETQ13、Q15と、2個のNchFETQ14、Q16がたすき掛け構造となっており、PchFETQ13がデプレッション型素子で構成されていて、他の全てのFETQ11、Q12、Q14〜Q16がエンハンスメント型素子で構成されている。したがって、FETQ16の出力がLレベル固定となり、最終的に、SRAMセル1は、ゲートFETQ11の電位がLレベルの電位となって、たすき掛けされているもう一方のゲートFETQ12の電位がHレベルの電位が固定されることとなり、ROM化される。【選択図】 図1
Claim 1:
2個のゲートFET、2個のPチャネルFET及び2個のNチャネルFETがたすき掛け構成されているSRAMセルにおいて、前記2個のPチャネルFETのうち一方のPチャネルFETを選択的にエンハンスメント型FETからデプレッション型FETに変更して、当該PチャネルFETの選択に応じたデータを格納することを特徴とするSRAMセル。
IPC (2):
FI (2):
G11C17/00 304Z
, G11C11/40 A
F-Term (10):
5B015HH01
, 5B015JJ43
, 5B015KA08
, 5B015KA12
, 5B015NN02
, 5B015QQ03
, 5B125BA12
, 5B125CA08
, 5B125DD10
, 5B125FA10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
圧縮機
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-291064
Applicant:株式会社東芝
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