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J-GLOBAL ID:200903003770683283

写真測量支援システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997357785
Publication number (International publication number):1999183172
Application date: Dec. 25, 1997
Publication date: Jul. 09, 1999
Summary:
【要約】【課題】操作が容易で、測定対象物の画像撮影を安全に行えるようにした写真測量支援システムを提供すること。【解決手段】撮像手段にて得た画像から測定対象物の3次元計測を行う写真測量システムにおいて、測定対象物の3次元形状モデルと測定しようとする測定点の3次元位置情報を作成するモデル作成手段1と、作成した3次元形状モデルを用いて撮影対象としての測定対象物の注視点位置と撮像手段の視点位置座標又は撮像手段の位置座標および向きを入力するインターフェイスを有する撮影位置座標入力手段2と、入力した撮像手段の視点位置から撮影した画像上の測定点の推定位置座標と測定点画像間の位置関係情報を作成する推定手段3と、入力画像を処理して複数の異なる視点位置から撮影した画像間で測定点画像間の対応付けを行い測定点の3次元座標を計算する計算手段5とを備える。
Claim (excerpt):
撮像手段により得られた画像から測定対象物の3次元計測を行う写真測量システムにおいて、測定対象物の3次元形状モデルと測定しようとする測定点の3次元位置情報を作成する3次元モデル作成部と、作成した3次元形状モデルを用いて撮影しようとする測定対象物の注視点位置と前記撮像手段の視点位置座標または撮像手段の位置座標および向きを入力するインターフェイスを有する撮影位置座標入力部と、入力した撮像手段の視点位置から撮影した画像上の測定点の推定位置座標と測定点画像間の位置関係情報を作成する測定点画像位置推定部と、入力画像を処理して複数の異なる視点位置から撮影した画像間で測定点画像間の対応付けを行い、測定点の3次元座標を計算する3次元座標計算部と、を備えることを特徴とする写真測量支援システム。
IPC (4):
G01C 11/04 ,  G01B 11/24 ,  G01C 15/00 ,  G06T 7/00
FI (4):
G01C 11/04 ,  G01B 11/24 A ,  G01C 15/00 A ,  G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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