測定機器及び測定方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003033767
Publication number (International publication number)：2004028983
Application date： Feb. 12, 2003
Publication date： Jan. 29, 2004
Summary：

【課題】被試験回路の負荷を増やさないで、アナログ信号及びデジタル信号の両方を高精度で取り込むことができる測定機器及び測定方法を提供する。【解決手段】17チャネルのプローブが被試験装置から検出した入力信号を各チャネルの受信回路用IC100が受ける。各チャネルで、入力信号は、終端回路108で終端されると共に、デジタル経路(比較器104、シュミット・トリガ110、遅延選択回路112及びデジタル出力ドライバ114)及びアナログ経路(アナログ・バッファ106、スイッチ116、バス120、アナログ出力バッファ130)に同時に供給される。【選択図】図1

Claim 1：

被試験装置からの入力試験信号を受ける入力導体と、該入力導体からの上記入力試験信号を調整する受信回路と、該受信回路内にて、調整する上記入力試験信号をデジタル経路及びアナログ経路に並行に供給する共通ノードとを具え、上記デジタル経路が上記共通ノードからの上記入力試験信号を処理して、上記入力試験信号のデジタル表現を生成し、上記アナログ経路が上記共通ノードからの上記入力試験信号を処理して、上記入力試験信号のアナログ表現を生成することを特徴とする測定機器。

IPC (2)：

G01R13/28 , G01R1/06

FI (2)：

G01R13/28 K , G01R1/06 E

F-Term (2)：

2G011AC11 , 2G011AC31

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

特開昭62-226064
特開平4-359159
特開平4-359159

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