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J-GLOBAL ID：200903003838611065
分光分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
北村 修一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997265504
Publication number (International publication number)：1999108827
Application date： Sep. 30, 1997
Publication date： Apr. 23, 1999
Summary：
【要約】【課題】 簡単な構成にて、計測用波長を含む波長範囲内で検出光の情報を高分解能で得ることができるようにする。【解決手段】 試料に光を照射する光源1と、試料からの反射光又は透過光が検出光として入射するように配置された干渉フィルタ3aと、干渉フィルタ3aに対する検出光の入射範囲又は出射範囲を、干渉フィルタ3aの幅よりも狭い幅に規制する光通過規制部Sと、干渉フィルタ3aによって分光された異なる波長の光を受光するように、複数の受光部4aを並置して備えた受光手段4とが設けられている。
Claim (excerpt)：
試料に光を照射する光源と、試料からの反射光又は透過光が検出光として入射するように配置された干渉フィルタと、前記干渉フィルタに対する前記検出光の入射範囲又は出射範囲を、前記干渉フィルタの幅よりも狭い幅に規制する光通過規制部と、前記干渉フィルタによって分光された異なる波長の光を受光するように、複数の受光部を並置して備えた受光手段とが設けられている分光分析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/27 Z
, G01N 33/02
