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J-GLOBAL ID:200903003913059080

移動式探傷装置における欠陥寸法測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 三觜 晃司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994328290
Publication number (International publication number):1996184584
Application date: Dec. 28, 1994
Publication date: Jul. 16, 1996
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】超音波探傷等において、欠陥の評価を正確に行える。【構成】欠陥検出センサ2を直線的に移動し、その移動方向の直角方向を欠陥検出方向として走査して欠陥1の検出を行う移動式探傷装置において、ある移動方向Aにおいて欠陥からの信号を検出した場合には、その方向での適宜移動範囲のデータ群により欠陥寸法を推定して、これを記憶し、次いで前回の移動方向から適宜角度変更した移動方向Bにつき、前回の移動範囲に対応する範囲で欠陥寸法の推定、記憶を行う動作を、欠陥からの信号が検出されなくなるまで繰り返して欠陥寸法の推定値群を記憶し、記憶された推定値群のうちの最大値を欠陥寸法の測定値とする。【効果】欠陥の検出動作を各方向から行って、その最大値を欠陥寸法の測定値とするため、欠陥を過小評価することが防げる。
Claim (excerpt):
欠陥検出センサを直線的に移動し、その移動方向の直角方向を欠陥検出方向として走査して欠陥の検出を行う移動式探傷装置において、ある移動方向において欠陥からの信号を検出した場合には、その方向での適宜移動範囲のデータ群により欠陥寸法を推定して、これを記憶し、次いで前回の移動方向から適宜角度変更した移動方向につき、前回の移動範囲に対応する範囲で上記欠陥寸法の推定、記憶を行う動作を、欠陥からの信号が検出されなくなるまで繰り返して欠陥寸法の推定値群を記憶し、記憶された推定値群のうちの最大値を欠陥寸法の測定値とすることを特徴とする移動式探傷装置における欠陥寸法測定方法
IPC (2):
G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
  • 無軌道式超音波探傷走行装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-300737   Applicant:東京瓦斯株式会社, 石川島播磨重工業株式会社
  • 特開昭61-117450
  • 特開昭64-068652
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