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J-GLOBAL ID：200903003915434511

電子式測定装置の補償方法

Inventor： 山田 勝利
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995008678
Publication number (International publication number)：1996201189
Application date： Jan. 24, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【構成】物理量を感受するセンサ3,4,5と、センサを補償するデータを得る一つ以上のセンサと、A/D変換手段6と、メモリ手段1と、デジタル演算手段2と、出力インタフェース7とを具備する電子式測定装置で、あらかじめ測定され装置の固有の特性を示す補償データが、デジタル信号に関して等間隔となるアドレスを有し、その間隔が2の累乗で与えられるN(N>0)次元の配列を構成する。補償データは、外部プロダクションコンピュータで、高度な演算を行う。測定時には、測定点に対して順次近接したアドレスをn(n>N)個参照し、真の測定値を比例計算する。【効果】測定系が複数の環境変数によって影響を受ける場合でも、少ない演算時間で高精度の補正が可能である。

Claim (excerpt)：

複数ある物理量のうちの一つを選択的に感受し、電気信号に変換することを目的とするセンサと、前記センサが目的とする物理量以外の一つ以上の物理量を感受し前記センサを補償するデータを得ることを目的とする一つ以上のセンサと、A/D変換手段と、あらかじめ測定され装置の固有の特性を示す補償データおよび演算手順を記憶するメモリ手段と、前記各々のセンサの電気信号に対応する補償データを演算手順に従って前記メモリ手段より参照して演算するデジタル演算手段と、前記デジタル演算手段の出力を表示あるいは伝送するインタフェースとを具備する電子式測定装置の補償方法において、前記メモリ手段に記憶される、あらかじめ測定され装置の固有の特性を示す補償データは、前記各々のセンサの電気信号に対応するデジタル信号をアドレスとするN(N>0)次元の配列を構成して格納されていることを特徴とする電子式測定装置の補償方法。

IPC (3)：

G01L 1/00 ,  G01D 3/028 ,  G01L 27/00

FI (2)：

G01D 3/04 D ,  G01D 3/04 F