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J-GLOBAL ID：200903004061357581

製造計画作成システムおよび製造計画作成方法

Inventor：
王 喜宏

About 王 喜宏

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中村 光宏

About 中村 光宏

, 
中嶋 孝広

About 中嶋 孝広


Applicant, Patent owner：
富士電機システムズ株式会社

About 富士電機システムズ株式会社


Agent (1)： 大菅 義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008069813
Publication number (International publication number)：2009223785
Application date： Mar. 18, 2008
Publication date： Oct. 01, 2009
Summary：
【課題】充填・包装工程から中身製造工程までの生産システム全体を考慮した全体最適な生産順序を得る製造計画作成システムを提供する。【解決手段】オーダを取入れる依頼データ取入部202と、取入れた前記オーダと保存されているオーダを比較して前記オーダの変更の有無を確認する依頼・比較部203と、提供された前記オーダの受入れを前提に事前に負荷をチェックする製造負荷チェック部204と、該負荷チェックに基づいて前記オーダに対して事前に調整を行う計画前予調整部204,205と、下流生産設備の割付から上流生産設備の割付に至る割付を行うライン割付部206と、割付の状況をガントチャート表示する表示部207,208と、対話により割付を行う割付対話修正部208と、作業段取り時間又は作業負荷が最短/最小になる最適な製造順番を与える製造順番最適化部209と、計画結果を外部に通知する計画結果通知部211を少なくとも備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
依頼元からのオーダを受取り、製造計画を作成する製造計画作成システムにおいて、 該製造計画作成システムは、製造計画組込作成部と製造計画詳細作成部とマスタデータ管理部とからなり、 前記製造計画組込作成部は、 全件又は差分で提供されるオーダを取入れるオーダ取入手段と、 取入れた前記オーダと保存されているオーダを比較して前記オーダの変更の有無を確認するオーダ変更確認手段と、 取入れた前記オーダの受入れを前提に事前に負荷をチェックする事前負荷チェック手段と、 事前負荷チェック結果に基づいて前記オーダに対して追加、変更、削除、分割、結合のいずれかを行い前記オーダに対する製造計画が立案できるよう事前に調整を行う計画前予調整手段と、 を備え、 前記製造計画詳細作成部は、 前記オーダ中の数量、品目、納期などの情報を基に、生産設備の能力情報および生産に係る業務手順、製造レシピ、制約条件等の生産情報を考慮して下流生産設備の割付から上流生産設備の割付に至る割付を自動又は手動で行う生産設備割付手段と、 該生産設備割付手段による生産設備割付について、更に、作業期間又は製造数量の変更、オーダ又は作業の分割、結合のいずれかを対話により行う割付対話修正手段と、 前記割付の状況を計画作成編集画面上にガントバーチャート形式で表示する表示手段と、 前後生産品目を切替える作業にかかる時間、作業員の負荷、切替えで発生するコスト、在庫切りのリスクなどの評価値を評価指標として指定し、納期、又は意図的に固定する作業等制約条件を顧慮した上で、前記評価指標の全部又は何れの1つについて、評価範囲内に発生する各切替えでの合計最小、又は後継作業との切替えでの後継順次最小となるような最適な製造順番を与える製造順番最適化手段と、 計画結果を所定の形式で指定される場所に通知する計画結果通知手段と、 を備え、 前記マスタデータ管理部は、 外部にあるマスタデータを内部にある外部仕様のマスタデータ格納場所に取込むとともに取込んだ外部仕様のマスタデータを内部で利用できるようデータの項目構造、項目形式、値などを変換するマスタデータ変換手段と、 内部に取込まれた外部仕様のマスタデータをメンテナンスするとともにメンテナンスされたマスタデータを外部形式に逆変換して外部の所定場所に提供するマスタデータメンテナンス手段と、 を備えていることを特徴とする製造計画作成システム。
IPC (2)：
G05B 19/418 ,  G06Q 50/00
FI (2)：
G05B19/418 Z ,  G06F17/60 108
F-Term (5)：
3C100AA08 ,  3C100AA16 ,  3C100AA18 ,  3C100BB39 ,  3C100EE14
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (10)
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Cited by examiner (5)
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