Pat
J-GLOBAL ID:200903004064748484
分光光学装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 村松 貞男
, 風間 鉄也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003319822
Publication number (International publication number):2005084029
Application date: Sep. 11, 2003
Publication date: Mar. 31, 2005
Summary:
【課題】 観測光の広帯域のスペクトル領域に対して注目するスペクトル領域を精度よく抽出できる自由度の高い分光検出装置を提供する。【解決手段】 試料から発する観測光を導びく観測光学系1と、観測光より第1のスペクトル領域を検出する第1の多チャンネル分光検出系100と、観測光より第1のスペクトル領域に含まれる第2のスペクトル領域を検出する第2の多チャンネル分光検出系200とを具備する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
試料から発する観測光を導びく観測光学系と、
前記観測光より第1のスペクトル領域を検出する第1の多チャンネル分光検出系と、
前記観測光より前記第1のスペクトル領域に含まれる第2のスペクトル領域を検出する第2の多チャンネル分光検出系と
を具備したことを特徴とする分光光学装置。
IPC (4):
G01J3/14
, G01J3/18
, G01J3/443
, G01N21/64
FI (4):
G01J3/14
, G01J3/18
, G01J3/443
, G01N21/64 Z
F-Term (27):
2G020AA04
, 2G020BA05
, 2G020CA01
, 2G020CB04
, 2G020CB23
, 2G020CC04
, 2G020CC13
, 2G020CC62
, 2G020CC63
, 2G020CD04
, 2G020CD14
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA06
, 2G043GA04
, 2G043GB01
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043JA02
, 2G043JA04
, 2G043JA05
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043LA03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
-
特許第3076715号公報
-
米国特許2002/0020819明細書
-
米国特許2002/0036775明細書
Cited by examiner (6)
-
イメージングスペクトロメータ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-281346
Applicant:日本電気株式会社
-
走査型レーザ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-245594
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
波長モニタおよび光源
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-298657
Applicant:安藤電気株式会社
-
走査型光学顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-081118
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
分光計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-126907
Applicant:スズキ株式会社
-
マルチスペクトル撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-238286
Applicant:株式会社宇宙情報技術研究所
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