分析装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996259334
Publication number (International publication number)：1998104182
Application date： Sep. 30, 1996
Publication date： Apr. 24, 1998
Summary：

【要約】【課題】炉体2の周辺がまだ冷えているときにケース蓋3が開放されると、この炉体2の周囲に乾燥ガスを流すことにより、試料Aの交換時に結露や着霜が生じないようにすることができる示差走査熱量測定用の分析装置を提供する。【解決手段】試料室ケース1内の炉体2の周囲に電磁弁16を介して乾燥ガスを供給する乾燥ガス管路17と、ケース蓋3が開放されたことを検出するマイクロスイッチ4と、このマイクロスイッチ4がケース蓋の開放を検出し、かつ、炉体温度が室温以下であると温度制御装置11が判断した場合に電磁弁16の流路を開く電磁弁アクチュエータ18とを備えた分析装置。

Claim (excerpt)：

内部を密閉するケース蓋が取り付けられた試料室ケース内に試料等を収容する炉体が配置されると共に、この炉体を冷却する冷却手段が設けられた分析装置において、試料室ケース内の炉体の周囲への乾燥ガスの供給と停止を行う乾燥ガス供給手段と、ケース蓋が開放されたことを検知する検知手段と、この検知手段がケース蓋の開放を検知した場合に、又は、これと同時に他の条件も満たされた場合にのみ、乾燥ガス供給手段に乾燥ガスの供給を行わせる乾燥ガス供給制御手段とを備えたことを特徴とする分析装置。

IPC (2)：

G01N 25/20 , G01N 25/00

FI (2)：

G01N 25/20 C , G01N 25/00 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特公平7-037952
特開平4-169842
特開平4-356981

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