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J-GLOBAL ID:200903004128554042

位相比較器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐藤 隆久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996135431
Publication number (International publication number):1997321616
Application date: May. 29, 1996
Publication date: Dec. 12, 1997
Summary:
【要約】【課題】 確実で安定した動作を得られ、回路構成が簡単で、配線の簡略化およびレイアウトの設計を容易にでき、設計への依存性を低減できる位相比較器を実現する。【解決手段】 エッジ検出回路EDT1 ,EDT2 により基準信号Sref および発振信号Svar の立ち上がりエッジで信号ar ,br を発生し、フリップフロップFF1 ,FF2 をセットし、これらのフリップフロップの信号cr ,cv をORゲート11に入力し、リセット信号dを発生し、フリップフロップをリセットし、フリップフロップFF1 の信号br ,cr およびフリップフロップFF2 の信号bv ,cv に応じてANDゲート17と18でアップ信号Supとダウン信号Sdwを発生するので、発振信号および基準信号の位相差に応じたアップ、ダウン信号を発生でき、簡単な回路構成で安定した動作を得られる。
Claim 1:
第1の入力信号のエッジを検出する第1のエッジ検出手段と、第2の入力信号のエッジを検出する第2のエッジ検出手段と、上記第1のエッジ検出手段からのエッジ検出信号を受けて出力信号を第1のレベルに設定する第1のフリップフロップと、上記第2のエッジ検出手段からのエッジ検出信号を受けて出力信号を上記第1のレベルに設定する第2のフリップフロップと、上記第1および第2のフリップフロップの出力信号に基づき、上記第1および第2の入力信号の位相差に応じた位相差信号を出力する出力手段とを有する位相比較器。
IPC (3):
H03L 7/085 ,  G01R 25/00 ,  H03K 5/26
FI (3):
H03L 7/08 A ,  G01R 25/00 ,  H03K 5/26 G
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
  • 特開平1-168118
  • 特開平4-326624
  • 位相差又は周波数差の検出回路
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-032866   Applicant:エスジェエス-トムソンミクロエレクトロニクスソシエテアノニム
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Cited by examiner (7)
  • 特開平1-168118
  • 特開平4-326624
  • 位相差又は周波数差の検出回路
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-032866   Applicant:エスジェエス-トムソンミクロエレクトロニクスソシエテアノニム
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