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J-GLOBAL ID：200903004144829094

変位計測方法とその方法に用いる変位計測装置

Inventor： 小沼 正三
Applicant, Patent owner： ホロニック株式会社
Agent (1)： 高月 猛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995103587
Publication number (International publication number)：1996297003
Application date： Apr. 27, 1995
Publication date： Nov. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 電磁回路を利用した、簡単で効率的な電気的、物理的、化学的変位の計測方法を提供する。【構成】 例えば発振回路による矩形波に応じてON・OFFするスイッチに接続した電磁回路で、電源接続直後に発生する過渡応答信号Sの状態から電気的変位を計測する。過渡応答信号Sの波高値Sh、パルス周期Sp、パルス減衰時間Stは、電磁回路の抵抗成分R、容量成分C、誘導成分L、印加電圧Eの変化に従って変動する。従って、過渡応答信号Sをオシログラフ等を用いて測定すれば、電磁回路の電気的変位を計測することが可能となる。また、前記抵抗成分R、容量成分C、誘導成分Lを、長さ等の物理的変位、化学反応に用いる電極等に現れる化学的変位に連動させれば、その物理的変位や化学的変位を過渡応答信号Sの状態から計測することができる。

Claim (excerpt)：

電磁回路の誘導成分、容量成分、抵抗成分、印加電圧のうちの少なくとも1成分の電気的変位を、電源接続時に当該電磁回路で発生する過渡応答信号の状態から計測することを特徴とする変位計測方法。

IPC (4)：

G01B 7/00 ,  G01R 27/02 ,  G01R 29/02 ,  G01D 5/12

FI (4)：

G01B 7/00 A ,  G01R 27/02 Z ,  G01R 29/02 Z ,  G01D 5/12 R