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J-GLOBAL ID:200903004174407330

欠陥検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鹿嶋 英實
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006132122
Publication number (International publication number):2007303948
Application date: May. 11, 2006
Publication date: Nov. 22, 2007
Summary:
【課題】せん断加工面の照明の仕方を工夫して圧延スジを撮影しないようにする。【解決手段】圧延鋼板のせん断加工面の欠陥を検査する欠陥検査装置(10)において、前記せん断加工面を直接光(Fa)により照明する第1照明手段(18)と、前記直接光を反射させた反射光(Fb)により前記せん断加工面を照明する第2照明手段(19)と、前記直接光と反射光によって照明された前記せん断加工面の画像を撮影する撮影手段(17)と、前記撮影手段によって撮影された画像に基づいて前記せん断加工面の欠陥の有無を判定する判定手段(20)とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
圧延鋼板のせん断加工面の欠陥を検査する欠陥検査装置において、 前記せん断加工面を直接光により照明する第1照明手段と、 前記直接光を反射させた反射光により前記せん断加工面を照明する第2照明手段と、 前記直接光と反射光によって照明された前記せん断加工面の画像を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段によって撮影された画像に基づいて前記せん断加工面の欠陥の有無を判定する判定手段と を備えたことを特徴とする欠陥検査装置。
IPC (1):
G01N 21/95
FI (1):
G01N21/95 Z
F-Term (6):
2G051AA01 ,  2G051AB02 ,  2G051BB20 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 圧延鋼板の欠陥検出方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2004-101134   Applicant:ジヤトコ株式会社, 株式会社エム・アイ・エル

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