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J-GLOBAL ID：200903004177329038
テストパターン生成方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993226151
Publication number (International publication number)：1995085129
Application date： Sep. 10, 1993
Publication date： Mar. 31, 1995
Summary：
【要約】【構成】 故障を仮定した結線のテストパターン生成(103)において、この故障を過程した結線から出力端子へ故障差を伝搬させる経路の構成要素となる各結線とその信号値とを保存しておく。この信号値は各結線が故障なしのときの故障差の値を示すものに相当することとなる。そこで、そのパターン生成処理の後、各結線における信号値を故障差データとして参照し、各結線における同一テストパターンで検出可能な縮退故障の種別を求める(104)。このように、故障を仮定した結線のテストパターン生成処理過程での情報を有効利用することで、故障を仮定した結線のテストパターンと同一のテストパターンで検出可能な結線の故障を求めるようになっている。【効果】 テストパターンの生成を高速に行うことができることとなる。
Claim 1：
ハードウエア記述言語により記述された論理回路中において結線の出力が常に一定値となる結線故障を検出する際に、この結線故障を信号値として前記論理回路の出力端子へ伝搬させるのに必要な前記論理回路への入力データからなるテストパターンを生成するト共に、前記結線故障を出力端子へ伝搬させる経路を構成する結線とその結線における信号値とを保存することにより結線用のテストパターンを生成することを特徴とするテストパターン生成方法。
IPC (2)：
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