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J-GLOBAL ID:200903004183481020

プラズマディスプレイパネルの特性検査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005331092
Publication number (International publication number):2007141542
Application date: Nov. 16, 2005
Publication date: Jun. 07, 2007
Summary:
【課題】不灯の放電セルなどの画面欠陥と区別して、完全点灯状態を高精度に検出し、プラズマディスプレイパネルの特性検査を効率よく行うことができるようにする。【解決手段】一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査方法において、プラズマディスプレイパネルの点灯条件を設定し、その点灯条件におけるプラズマディスプレイパネルの点灯状態を撮像手段により撮像する撮像ステップ(ステップ1、2)と、その撮像した画像を用いて前記画像の特徴を表す階調別ヒストグラムを求め、その階調別ヒストグラムより全ての放電セルが点灯しているか否かを判定する画像処理ステップ(ステップ3〜ステップ8)とを有し、点灯条件を変えながら撮像ステップと画像処理ステップとを行う。【選択図】図3
Claim (excerpt):
一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査方法において、プラズマディスプレイパネルの点灯条件を設定し、その点灯条件における前記プラズマディスプレイパネルの点灯状態を撮像手段により撮像する撮像ステップと、その撮像した画像を用いて前記画像の特徴を表す階調別ヒストグラムを求め、その階調別ヒストグラムより全ての前記放電セルが点灯しているか否かを判定する画像処理ステップとを有し、前記点灯条件を変えながら前記撮像ステップと前記画像処理ステップとを行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
IPC (3):
H01J 9/42 ,  H01J 11/02 ,  G01M 11/00
FI (3):
H01J9/42 A ,  H01J11/02 Z ,  G01M11/00 T
F-Term (9):
2G086EE12 ,  5C012AA09 ,  5C012BE03 ,  5C040FA01 ,  5C040FA04 ,  5C040GB03 ,  5C040GB14 ,  5C040JA26 ,  5C040MA23
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)

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