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J-GLOBAL ID：200903004187236070

タイヤ試験装置及び試験方法

Inventor： 落合 敏男 ,  草次 修一
Applicant, Patent owner： 横浜ゴム株式会社
Agent (1)： 小川 信一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002098534
Publication number (International publication number)：2003294585
Application date： Apr. 01, 2002
Publication date： Oct. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】 タイヤの試験条件を精度良くコントロールすると共に、設備コストを低減することを可能にしたタイヤ試験装置及び試験方法を提供する。【解決手段】 試験ドラムの外周上でタイヤを転動させる複数の試験ポジションA〜Dを備え、各試験ポジションでのタイヤの試験条件を油圧シリンダで周期的に変動させると共に、これら試験ポジションA〜Dの油圧シリンダを共通の油圧源で駆動するようにしたタイヤ試験装置において、油圧シリンダの制御信号を発振する共通の発振器40と、該発振器40から発振される制御信号を複数の試験ポジションA〜Dの油圧シリンダに対して互いに時間差を持たせて供給する時間差回路41とを設ける。

Claim (excerpt)：

試験ドラムの外周上でタイヤを転動させる複数の試験ポジションを備え、各試験ポジションでのタイヤの試験条件を油圧シリンダで周期的に変動させると共に、これら試験ポジションの油圧シリンダを共通の油圧源で駆動するようにしたタイヤ試験装置において、前記油圧シリンダの制御信号を発振する共通の発振器と、該発振器から発振される制御信号を前記複数の試験ポジションの油圧シリンダに対して互いに時間差を持たせて供給する時間差回路とを設けたタイヤ試験装置。

IPC (2)：

G01M 17/02 ,  B60C 19/00

FI (2)：

B60C 19/00 H ,  G01M 17/02 Z