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J-GLOBAL ID：200903004188038590

質量分析装置

Inventor： 下村 学
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996359023
Publication number (International publication number)：1998185873
Application date： Dec. 26, 1996
Publication date： Jul. 14, 1998
Summary：

【要約】【課題】 バックグラウンドノイズによる影響を除去し正確な質量スペクトルを求める。【解決手段】 目的試料の測定に先立ってバックグラウンドノイズの質量スペクトルを測定し、各ピークの質量数とレベルとを記憶部23に記憶しておく。目的試料の測定により各ピークの質量数とレベルとのデータを取得した後、ピーク選択部24は記憶部23に記憶しているデータを参照して、各質量数毎にノイズレベルよりも高いレベルを有するピークのみを選択し、スペクトル作成部25にてノイズによるピークを除去した正確な質量スペクトルを作成する。

Claim (excerpt)：

a)目的とする試料の測定に先立って該試料を導入せずに質量走査を行ない、バックグラウンドノイズのスペクトルに関する情報を記憶しておく記憶手段と、b)該記憶手段に記憶している情報を基に、目的とする試料の測定を行なって得た複数のピークの中から該ピークの質量数におけるバックグラウンドノイズのレベルよりも高いピークレベルを有するもののみを選択する選択手段と、c)該選択手段により選択されたピーク情報に基づいてスペクトルを作成するスペクトル作成手段と、を備えることを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/26 ,  H01J 49/42

FI (3)：

G01N 27/62 D ,  H01J 49/26 ,  H01J 49/42