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J-GLOBAL ID：200903004243541647

光計測装置

Inventor： 千代 知成
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998312227
Publication number (International publication number)：2000136997
Application date： Nov. 02, 1998
Publication date： May. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】 複数の層からなる散乱媒体の各層の光学定数(散乱係数もしくは吸収係数など)等を、簡単な構成によって計測できるようにする。【解決手段】 散乱媒体10の表面から、その内部に計測光Lを入射させる1つの光源11と、この計測光Lの入射位置からの距離が相異なる複数の位置において、それぞれ散乱媒体10の外に出射して来る計測光Lを検出する光検出器D1 、D2 、D3 ......Dn とを設ける。そして演算手段15により、前記複数の位置の各々における検出計測光の強度の、隣接位置の検出計測光強度との差分を求め、この差分が極大または極小値を取る散乱媒体10表面上の位置を求め、これらの位置における検出計測光の減光度に基づいて、該位置のそれぞれと光源11との間の計測光光路長や、散乱媒体各層の厚さや光学定数を求める。

Claim (excerpt)：

複数の層からなる散乱媒体の表面から、その内部に計測光を入射させる1つの光源と、この計測光の入射位置からの距離が相異なる複数の位置において、それぞれ前記表面から散乱媒体外に出射して来る計測光を検出する光検出手段と、前記複数位置のそれぞれにおける検出計測光の強度の、隣接位置の検出計測光強度との差分を求める手段と、前記差分の極大値または極小値を取る散乱媒体表面上の位置と、該位置に対応する検出器を求める手段と、前記複数位置の検出計測光の強度に基づいて、光源と検出位置との間の計測光路長を求める演算手段とからなる光計測装置。

IPC (2)：

G01N 21/17 ,  A61B 5/145

FI (2)：

G01N 21/17 620 ,  A61B 5/14 310

F-Term (14)：

2G059AA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB12 ,  2G059BB20 ,  2G059EE11 ,  2G059KK03 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM04 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04 ,  4C038VB02