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J-GLOBAL ID:200903004247578553

活性イオン測定方法及び測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 阿形 明 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997056649
Publication number (International publication number):1998253565
Application date: Mar. 11, 1997
Publication date: Sep. 25, 1998
Summary:
【要約】【課題】 これまで検出や定量ができなかった活性イオンを簡単に測定する。【解決手段】 含水量を制御した活性イオン発生源に、非イオン性不活性ガス流を連続的に接触させて生成した活性イオンを不活性ガス流に担送させ、次いでこの活性イオン担送不活性ガス流を、蒸留水と接触させ、その蒸留水について電気伝導度の経時的変化を測定し、その単位時間当りの増加量により活性イオンの相対量を求める。
Claim 1:
含水量を制御した活性イオン発生源に、非イオン性不活性ガス流を連続的に接触させて生成した活性イオンを不活性ガス流に担送させ、次いでこの活性イオン担送不活性ガス流を、蒸留水と接触させ、その蒸留水について電気伝導度の経時的変化を測定し、その単位時間当りの増加量により活性イオンの相対量を求めることを特徴とする活性イオン測定方法。
IPC (2):
G01N 27/06 ,  G01N 1/22
FI (2):
G01N 27/06 A ,  G01N 1/22 S
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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